鍍層厚度分析

檢測(cè)目的： 檢測(cè)材料表面的金屬覆蓋層的厚度及其均勻性

檢測(cè)范圍： 鍍層、涂層、化學(xué)生成膜等

申請(qǐng)檢測(cè)

項(xiàng)目介紹測(cè)試方法檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) 試驗(yàn)步驟

項(xiàng)目介紹

鍍層是為了好看或儲(chǔ)藏而涂在某些物品上的金屬表面涂上一層塑料，或者一層稀薄的金屬或?yàn)榉略炷撤N貴重金屬，在普通金屬的表面鍍上這種貴重金屬的薄層。鍍層厚度測(cè)試檢測(cè)材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測(cè)試。

測(cè)試方法

金相法

利用金相顯微鏡原理，對(duì)鍍層厚度進(jìn)行放大，以便準(zhǔn)確的觀測(cè)及測(cè)量。

庫侖法

利用適當(dāng)?shù)碾娊庖宏枠O溶解精確限定面積的覆蓋層，電解池電壓的急劇變化表明覆蓋層實(shí)質(zhì)上完全溶解，經(jīng)過所耗的電量計(jì)算出覆蓋層的厚度。因陽極溶解的方法不同，被測(cè)量覆蓋層的厚度所耗的電量也不同。

X-ray 方法

X射線光譜方法測(cè)定覆蓋層厚度是基于一束強(qiáng)烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長(zhǎng)和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量(若密度已知，則為覆蓋層線性厚度)和二次輻射強(qiáng)度之間存在一定的關(guān)系。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)試項(xiàng)目	測(cè)試方法	檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)	標(biāo)準(zhǔn)名稱	樣品要求
鍍層厚度分析	金相法	GB/T 6462-2005	金屬和氧化物覆蓋層厚度測(cè)量顯微鏡法	1.可切取橫斷面 2.鍍層、基材顏色有區(qū)別才適用此方法 3.金相法測(cè)試的最佳精度為0.8um，故盡量考慮2um以上的鍍層測(cè)試
		JIS H8501-1999	金屬覆層的厚度試驗(yàn)方法
		ISO 1463-2021	金屬和氧化物涂層--涂層厚度的測(cè)量--顯微鏡法
		AS 2331.1.1-2001	/
	X射線熒光法（XRF）	GB/T 16921-2005	金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量 X射線光譜方法	1. 須知悉基材牌號(hào)及鍍層類型 2. 較軟鍍層如金、銀、錫
		ISO 3497-2000	金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.X射線光譜測(cè)定法
		DIN EN ISO 3497-2001	金屬鍍層.鍍層厚度測(cè)量.X射線光譜法
		JIS H8501-1999	金屬覆層的厚度試驗(yàn)方法
	掃描電鏡測(cè)試	ASTM B748-90-2021	通過掃描電子顯微鏡測(cè)量橫截面來測(cè)量金屬涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法	測(cè)試制樣和注意事項(xiàng)同金相法。

試驗(yàn)步驟

取樣→清洗→真空鑲嵌→研磨→拋光→微蝕(如有必要)→噴金(如有必要)→觀察。

標(biāo)簽：鍍層厚度分析

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鍍層厚度分析