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1、范圍

本標準規(guī)定了銅及銅合金平均晶粒度的表示及測定方法，包含有比較法、面積法和截距法。

本標準適用于測定單相或以單相為主的銅及銅合金的晶粒度。

2、試樣

2.1 試樣應(yīng)直接從產(chǎn)品 上截取。取樣部位和取樣數(shù)量應(yīng)按相應(yīng)產(chǎn)品標準的有關(guān)規(guī)定進行。

2.2 試樣取樣尺寸推薦如下：

a) 板帶材取15 mmX15 mm正方形樣；

b) 管棒材沿軸向取10 mm~15 mm長圓環(huán)樣或圓片樣。

2.3 試樣制備方法按照YS/T 449規(guī)定進行。

3、晶粒度測定方法

3.1比較法

3.1.1比較法是通過被測試樣的圖像與標準圖對比來測定試樣晶粒度。

3.1.2試樣制好后 ,在放大100倍的倍率下，通過金相顯微鏡拍出有代表性視場的顯微照片或直接通過目鏡觀察，與相應(yīng)的標準評級圖片附錄A直接比較，選出與試樣圖像最接近的標準圖片，作為試樣的晶粒度，報出晶粒度值。每個試樣截面上應(yīng)選擇三個或三個以上有代表性視場進行比較。

3.1.3 當試樣晶粒度超過標準評級圖片所包括的范圍時，可采用合適的放大倍率M。在此放大倍率下的晶粒圖像與標準放大倍率(100X )的標準評級圖片進行比較，找出最接近的圖片后,按表2查對，報出實際晶粒度。

3.2 面積法

3.2.1面積法是通過統(tǒng)計給定面積內(nèi)的晶粒數(shù)來測定試樣晶粒度。

3.2.2在晶粒圖像上劃一個直徑79.8mm的測量圓，面積近似為5000mm2，選擇適當放大倍率M，使該圓內(nèi)至少包含有50個晶粒。計算測量圓覆蓋的晶粒數(shù)ng；

3.3 截距法

3.3.1 截距法是通過統(tǒng)計一 -定長度的一.條或幾條線段上所截的晶粒個數(shù)，計算出晶粒平均截距來測定晶粒度的大小。

3.3.2 在晶粒圖像上，任畫出一條或幾條一定長度的線段作為測量線段，選擇適當?shù)姆糯蟊堵?，以保證至少有50個晶粒被線段截過，李晶界不計算在內(nèi)。為了獲得準確的平均值，應(yīng)選擇3~5個視場進行測量，以最能代表試樣晶粒大小視場分布報出。

4、測定方法的應(yīng)用

4.1使用任何一種測定方法。最終應(yīng)以晶粒平均直徑來表述晶粒度。需要時可根據(jù)公式計算或表3查出相應(yīng)的其他數(shù)值。

4.2 使用比較法可直接得出晶粒平均直徑；面積法、截距法可根據(jù)公式計算或查表報出出晶粒平均直徑。

4.3 比較法適用于具有等軸晶粒(或近似等軸晶粒)的再結(jié)晶品粒。面積法、截距法均適用于等軸晶粒的測量，同時也適用非等軸晶粒的測量。

4.4 非等軸晶粒的試樣檢驗應(yīng)平行于加工方向的縱截面，必要時還應(yīng)檢驗其他方向截面。等軸晶粒的試樣檢驗平行于加工方向的縱截面即可。

4.5 比較法 方便實用，主要用于生產(chǎn)檢驗。對于要求較高精度的平均晶粒度的測定，推薦采用面積法和截距法。截距法相對于面積法更為快捷準確。如有爭議時，以截距法為仲裁方法。

4.6 顯微組織中晶粒尺寸和位置都是隨機分布，視場選擇應(yīng)為隨機的，不應(yīng)刻意去選取典型視場。

4.7 當試樣存在著晶粒不均現(xiàn)象，且優(yōu)勢晶粒所占面積比例不大于視場面積的90%時，則應(yīng)篩選出兩種優(yōu)勢晶粒，按6.1.6. 2、6.3規(guī)定測量出兩種晶粒的平均直徑及所占百分比，報出兩種晶粒的平均直徑及所占比例作為最終晶粒度結(jié)果。如0.025 mm 40%和0. 045 mm 60%。否則，只報出優(yōu)勢晶粒的晶粒度。

以上就是“ YS∕T 347-2020 銅及銅合金平均晶粒度測定方法”的相關(guān)解答，無錫力博實驗室是一家專注于可靠性試驗與項目研發(fā)的第三方檢測機構(gòu)，公司擁有大型實驗室，可以承接平均晶粒度檢測、及CNAS/CMA報告試驗，如果您有產(chǎn)品需要做相關(guān)測試的，歡迎電話咨詢!