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1.范圍

1.1本試驗(yàn)方法包括了通過(guò)火花源原子發(fā)射光譜法來(lái)同時(shí)測(cè)定碳素鋼和低合金中的20種合金和殘余元素，各元素質(zhì)量分?jǐn)?shù)范圍如下所示(注1)。

1.2 本試驗(yàn)方法包括了直徑大小足夠蓋住和密封火化架開口的鏜孔的試樣分析方法。 根據(jù)光度計(jì)試樣架的設(shè)計(jì)情況，試樣的厚度可有很大不同，但已發(fā)現(xiàn)介于10mm和38mm之間的某一厚度是最適合的。

1.3 本方法包括了鋼鐵冶煉過(guò)程中的常規(guī)控制分析以及已加工材料的分析。適用于鑄態(tài)和鍛軋樣品的分析。當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)樣 品與試樣具有相同的冶金條件和成分時(shí)，可獲得較好的測(cè)試效果。然而，對(duì)于本標(biāo)準(zhǔn)的所有應(yīng)用，這是不需要的。

1.4 本標(biāo)準(zhǔn)并沒有完全列舉所有的安全聲明，如果有必要，根據(jù)實(shí)際使用情況進(jìn)行期酌。使用本規(guī)范前，使用者有責(zé)任制定符合安全、健康和環(huán)保要求的條例和規(guī)范，并明確該規(guī)范的使用范圍。

1.5 本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)國(guó)際公認(rèn)的標(biāo)準(zhǔn)化原則制定的。該標(biāo)準(zhǔn)化原則在世界貿(mào)易組織技術(shù)性貿(mào)易壁壘(TBT) 委員會(huì)發(fā)布的《國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，指南及建議制定原則》中的決議予以確立。

2、方法概述
2.1 在圓盤試樣的平坦、磨光的表面與圓錐形的電極之間產(chǎn)生電容放電。放電會(huì)在選定的鐵譜線強(qiáng)度預(yù)定的積分時(shí)間或在預(yù)定時(shí)間停止，記錄分析線的相對(duì)輻射能。砷、硼、碳、氮、磷、硫和錫的最敏感線位于真空紫外線區(qū)域。該區(qū) 域內(nèi)空氣對(duì)輻射的吸收通過(guò)分光計(jì)排氣或使用一種真空紫外線(VUV) 透明氣體和使用氫氣沖洗火花箱來(lái)克服。

3、重要性和使用意義

3.1 該金屬和合金光譜分析方法主要用于測(cè)試符合成分規(guī)范的材料。人們認(rèn)為本分析方法的使用者應(yīng)為能熟練而安全地進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室常規(guī)試驗(yàn)的分析師。分析將會(huì)有適當(dāng)儀器裝備的實(shí)驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行。

4、試劑和材料

4.1 對(duì)電極——對(duì)電極可為銀棒或鎢棒或其他材料，前提條件是這些材料能試驗(yàn)證明可獲得等效的精密度和偏差。棒的直 徑為1.5mm- 6.5mm (取決于儀器的設(shè)計(jì))并且一般頂角加工成90°或120°。

4.1.1 黑色沉積物會(huì)在電極的頂端堆積，位于試樣間的黑色沉積物應(yīng)給予清除( 一般用鋼絲刷)。如果沒有清除，沉積物可降低光譜輻射的總體強(qiáng)度或在試樣間傳遞微量的污染物。儀器間電極上可接受的激發(fā)次數(shù)有所不同并且應(yīng)在每個(gè)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)確定。

4.2 惰性氣體，氬氣，依照規(guī)程E406。

5、校準(zhǔn)、標(biāo)定和檢驗(yàn)

12.1 校準(zhǔn)——使用給出的條件，以隨機(jī)時(shí)序測(cè)量校準(zhǔn)樣品和潛在的漂移校正樣本，將用作控制樣品的激發(fā)材料放在支架上。(校準(zhǔn)樣品可隨后用作為一種控制樣品) 。每種元素應(yīng)至少有3個(gè)校準(zhǔn)樣品，包括要求的質(zhì)量分?jǐn)?shù)范圍。分別測(cè)量每一種校準(zhǔn)樣品、漂移校正樣品和控制樣品2~4次，并使用平均值。如果分光計(jì)系統(tǒng)和軟件允許，使用不同的隨機(jī)時(shí)序至少重復(fù)兩次。采用每 點(diǎn)數(shù)據(jù)的平均值，按照規(guī)程E305指導(dǎo)在分光計(jì)制造商軟件中確定分析曲線。

5.2 校準(zhǔn)一 依照制造廠的建議，對(duì)初始設(shè)置進(jìn)行校準(zhǔn)或在已知或懷疑讀數(shù)出現(xiàn)漂移時(shí)進(jìn)行校準(zhǔn)。通過(guò)調(diào)整讀出數(shù)的控制或采用算術(shù)校正來(lái)進(jìn)行必要的校正。校準(zhǔn)將在檢驗(yàn)顯示讀數(shù)已經(jīng)偏離統(tǒng)計(jì)控制時(shí)進(jìn)行。在由分光計(jì)軟件執(zhí)行自動(dòng)校正的場(chǎng)合，觀察校準(zhǔn)因乎或偏移或兩者。在校準(zhǔn)或在記錄文件內(nèi)儲(chǔ)存之后，該校準(zhǔn)因子或偏移或兩者通常在分光計(jì)軟件內(nèi)顯示。該信息的訪問(wèn)參考您的儀器手冊(cè)或咨詢儀器制造商。

5.3 校準(zhǔn)——每次校準(zhǔn)后以及依照5.3.2要求即刻檢驗(yàn)校準(zhǔn)是否有效。

5.3.1 依照第13節(jié)分析控制樣品。如果結(jié)果超出12.4中確定的控制限值，則重新校準(zhǔn)一次或調(diào)查儀器故障原因。

5.3.2 每個(gè)實(shí)驗(yàn)室應(yīng)根據(jù)統(tǒng)計(jì)分析確定必要的檢驗(yàn)頻次。一般每4h- 8h一次是實(shí)用而充足的。如果結(jié)果不在12.4中確定的控制限值范圍內(nèi)，則重新校準(zhǔn)并重新檢驗(yàn)一次。 如有必要，重復(fù)校準(zhǔn)以便檢驗(yàn)結(jié)果在控限極限值內(nèi)或進(jìn)一步調(diào)查儀器的問(wèn)題。

5.4 質(zhì)量控制——依照ASTM MNL 7A，規(guī)程E1329和其他等效的控制程序來(lái)確定控制限值。

以上就是無(wú)錫力博為大家總結(jié)的關(guān)于ASTM E415-2021 碳素鋼和低合金鋼火花源原子發(fā)射光譜分析標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法，如果您有成分分析的相關(guān)檢測(cè)需求，歡迎前來(lái)咨詢，我們會(huì)有專業(yè)的項(xiàng)目工程師為您答疑解惑，期待您的來(lái)電！